אפלייד מטיריאלס תאתר פגמי שבבים בגודל 30 ננומטר

עוד מקור גאווה לשוק ההייטק הישראל, אפלייד מטיריאלס, היצרנית הגדולה בעולם של ציוד לתעשיית המוליכים למחצה, השיקה אתמול (ב') בניו-יורק, מערכת חדשה - פרי פיתוח של מרכז המו"פ בישראל. מדובר במערכת ראשונה מסוגה בעולם, לאיתור פגמי שבבים בגודל 30 ננומטר. בחברה מדווחים כי עד היום לא פעלו בשוק מערכות המאפשרות רגישויות אלו בתפוקות הנדרשות לייצור טכנולוגיות של 65 ננומטר ומטה. Applied UVision הינה מערכת בקרת השבבים מבוססת הלייזר הראשונה בעולם המשלבת שני ערוצי גילוי סימולטאניים: ערוץ ה-brightfield (לגלוי החזר אור) וערוץ התלת-מימד (לגלוי פיזור אור). המערכת, המשלבת שני ערוצי גילוי סימולטאניים, מאתרת פגמים ברגישות של עד 30 ננומטר, שלא הייתה קיימת עד כה, ומאפשרת ליצרנים לאתר "פגמים קטלניים" שלא ניתן לאתר כיום בייצור תעשייתי. נשיא ומנכ"ל אפלייד מטיריאלס העולמית, מייק ספלינטר, מסר כי המערכת החדשה מהווה גורם מרכזי באסטרטגיית הצמיחה של אפלייד מטיריאלס בשוק הבדיקה ובקרה: "Applied UVision". המערכת מכוונת את דרכה של התעשייה לייצור זעיר יותר. אף טכנולוגיה אחרת איננה מספקת ליצרני השבבים את הרזולוציה הנדרשת לפיתוחם של שבבים מתקדמים, במהירות התפוקה הנדרשת בכדי לשמור על נפח הייצור של שבבים מתחת ל-45 ננומטר". לדברי גלעד אלמוגי, מנכ"ל אפלייד מטיריאלס ישראל וסגן נשיא באפלייד מטיריאלס העולמית, "כניסתם של חומרים ותהליכי ייצור חדשים לתעשייה ייצרו קבוצות חדשות של פגמים המשליכים ישירות על תפוקות של מרכזי הייצור. ה-UVision הוכיחה עצמה באיתור פגמים בשלבים קריטיים בתהליך ייצור השבבים, שעד כה יצרנים לא הצליחו להתמודד איתם, באמצעות מערכות ה-Brightfield הקיימות בשוק". אלמוגי הוסיף, כי כבר בוצעו מספר הזמנות של המערכת על-ידי חברות ברחבי העולם.